產(chǎn)品服務(wù)
思爾芯原型驗(yàn)證系統(tǒng)在多 FPGA 調(diào)試方面表現(xiàn)出色,尤其適用于復(fù)雜 SoC 和多核系統(tǒng)的驗(yàn)證需求。其 MDM Pro (多 FPGA Debug 模塊)支持多達(dá)數(shù)千個(gè)信號(hào)的實(shí)時(shí) trace。每個(gè) FPGA 芯片可配置數(shù)千探針(probe)和多個(gè) trace 組,支持高達(dá)數(shù)千位的數(shù)據(jù)采樣寬度和數(shù)百萬(wàn)周期的存儲(chǔ)深度。
在跨 FPGA 調(diào)試方面,思爾芯采用高精度同步機(jī)制和時(shí)鐘對(duì)齊技術(shù),確保多芯片系統(tǒng)中 trace 數(shù)據(jù)的時(shí)序一致性。數(shù)據(jù)聚合方式靈活多樣,支持集中式和分布式存儲(chǔ),以適應(yīng)不同的驗(yàn)證場(chǎng)景。
然而,系統(tǒng)性能受限于 FPGA 資源占用、內(nèi)存帶寬、波形存儲(chǔ)容量和編譯開(kāi)銷(xiāo)等因素。因此,建議用戶(hù)在設(shè)計(jì)驗(yàn)證方案時(shí),合理規(guī)劃探針數(shù)量、觸發(fā)條件和調(diào)試策略,采用漸進(jìn)式調(diào)試方法,以平衡性能和資源消耗。
對(duì)于需要高密度 trace 和跨 FPGA 調(diào)試的用戶(hù),思爾芯提供了強(qiáng)大的支持,幫助用戶(hù)高效定位并解決系統(tǒng)級(jí)問(wèn)題。如需進(jìn)一步了解其產(chǎn)品和技術(shù)方案,建議訪問(wèn)思爾芯官方網(wǎng)站聯(lián)系銷(xiāo)售解答。